80升溫度沖擊試(shi)驗(yan)箱是光電、LED半導體照明燈具、LED光電、光纖、天線、金屬、LED、LCD、PCB電路板、FPC線路板、塑料、橡膠、計算機配件、汽車配件、油墨涂料、電子電器等材料行業*的測試設備，用于測試材料結構或復合材料，在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下忍受的程度，得以在zui短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。80L溫度沖擊試驗箱滿足的試驗方法：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗。

【名詞解釋(shi)】

80升溫度沖擊(ji)試驗箱根據(ju)試(shi)(shi)驗(yan)需求及測(ce)試(shi)(shi)標準分為(wei)(wei)三箱(xiang)(xiang)式(shi)和(he)兩(liang)箱(xiang)(xiang)式(shi)，區別(bie)在于試(shi)(shi)驗(yan)方式(shi)和(he)內部結構不(bu)同。三箱(xiang)(xiang)式(shi)分為(wei)(wei)蓄冷室(shi)，蓄熱室(shi)和(he)試(shi)(shi)驗(yan)室(shi)，產(chan)品(pin)在測(ce)試(shi)(shi)時是放(fang)置在試(shi)(shi)驗(yan)室(shi)。兩(liang)箱(xiang)(xiang)式(shi)分為(wei)(wei)高(gao)(gao)溫室(shi)和(he)低溫室(shi)，是通過電機帶動提籃(lan)運動來實現高(gao)(gao)低溫的切換，產(chan)品(pin)放(fang)在提籃(lan)里，是隨提籃(lan)一起移動的。

80升溫度沖擊(ji)試驗機執行與滿足(zu)標(biao)準：
　　1、GB/T2423.1-2001低(di)溫試驗方法；
　　2、GB/T2423.2-2001[1]；
　　3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N；
　　4. 國軍標GJB150.3-86；
　　5. 國軍標GJB150.4-86；
　　6. 國軍(jun)標GJB150.5-86；
　　7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
　　8、GJB360.7-87溫度(du)沖擊試驗；
　　9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試(shi)驗；
　　10、SJ/T10187-91Y73系列溫度(du)變化(hua)試驗箱(xiang)——一箱(xiang)式；
　　11、SJ/T10186-91Y73系(xi)列溫(wen)度(du)變化(hua)試驗箱(xiang)——二(er)箱(xiang)式；
　　12、滿足標準(zhun)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化；
　　10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變(bian)化試驗導則(ze)；
　　11、GB/T 2423.22-2002溫度變(bian)化；
　　12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規則；
　　13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環）測試程序的(de)電連接器(qi)和插座的(de)環境(jing)影(ying)響(xiang)評估(gu)。

【制冷系統】

制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)系(xi)統(tong)(tong)及(ji)壓縮(suo)機(ji)：為了保(bao)證試(shi)驗(yan)(yan)箱降(jiang)溫(wen)(wen)速率(lv)和zui低溫(wen)(wen)度的(de)(de)(de)要求，本(ben)試(shi)驗(yan)(yan)箱采用一(yi)(yi)套進口(kou)法(fa)國全封(feng)閉壓縮(suo)機(ji)所組(zu)成(cheng)的(de)(de)(de)二(er)元復疊式(shi)風冷(leng)(leng)(leng)制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)系(xi)統(tong)(tong)。復疊式(shi)冷(leng)(leng)(leng)　系(xi)統(tong)(tong)包含一(yi)(yi)個(ge)高溫(wen)(wen)制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)循(xun)環和一(yi)(yi)個(ge)低溫(wen)(wen)制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)循(xun)環，其連接(jie)容器為蒸發冷(leng)(leng)(leng)凝器，蒸發冷(leng)(leng)(leng)凝器是也(ye)到(dao)能量傳(chuan)遞的(de)(de)(de)作用，將(jiang)工作室內(nei)熱能通過兩級制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)系(xi)統(tong)(tong)傳(chuan)遞出去，實(shi)現隆溫(wen)(wen)的(de)(de)(de)目的(de)(de)(de)。制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)系(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)(de)設(she)計應用能量調節(jie)技術，一(yi)(yi)種行(xing)之有(you)效的(de)(de)(de)處理(li)方式(shi)既能保(bao)證在制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)機(ji)組(zu)正常運行(xing)的(de)(de)(de)情況下(xia)又(you)能對制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)系(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)(de)能耗及(ji)制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)量進行(xing)有(you)效的(de)(de)(de)調節(jie)，使制(zhi)(zhi)(zhi)冷(leng)(leng)(leng)系(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)(de)運行(xing)費用和故障率(lv)下(xia)降(jiang)到(dao)較(jiao)為經濟(ji)的(de)(de)(de)狀(zhuang)態(tai)。

制冷(leng)(leng)(leng)工(gong)作原(yuan)理(li)：高(gao)低(di)制冷(leng)(leng)(leng)循(xun)環均采(cai)用逆(ni)卡若循(xun)環，該循(xun)環由(you)兩個(ge)等(deng)(deng)溫(wen)過(guo)程(cheng)和(he)兩個(ge)絕熱過(guo)程(cheng)組(zu)成。其過(guo)程(cheng)如下：制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)(ji)(ji)經(jing)壓縮(suo)機絕熱壓縮(suo)到較高(gao)的壓力(li)，消耗了功使排氣溫(wen)度(du)升高(gao)，之后制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)(ji)(ji)經(jing)冷(leng)(leng)(leng)凝器等(deng)(deng)溫(wen)地(di)(di)和(he)四周介質(zhi)進行熱交換，將熱量(liang)傳給四周介質(zhi)。后制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)(ji)(ji)經(jing)閥(fa)絕熱膨脹(zhang)做功，這(zhe)時(shi)制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)(ji)(ji)溫(wen)度(du)降低(di)。zui后制冷(leng)(leng)(leng)劑(ji)(ji)(ji)通過(guo)蒸發器等(deng)(deng)溫(wen)地(di)(di)從(cong)溫(wen)度(du)較高(gao)的物體吸熱，使被冷(leng)(leng)(leng)卻物體溫(wen)度(du)降低(di)。此循(xun)環周而復始從(cong)而達(da)到降溫(wen)之目(mu)的。

制冷劑：采用DUPONT公司R404A（高溫循(xun)環）、R23（低溫循(xun)環）。

輔助件(jian)：膨脹閥（美國SPORLAN），電磁閥（意大利CAS）；過濾器（美國SPORLAN）；壓力控制(zhi)器（英(ying)美RANCO）；油分離器（歐美ALCO）等制(zhi)冷配(pei)件(jian)均采用進口件(jian)。

【符合標準】GB/T2423.1.2 GB10592-89 GJB150

型號：KW-TS-50  KW-TS-80  KW-TS-100  KW-TS-150  KW-TS-250  KW-TS-480

 【操作流程】

一般(ban)來(lai)說，80升冷熱沖擊試驗(yan)箱操作分為五部(bu)走：預處理、初始檢測(ce)、試驗(yan)、恢復(fu)、zui后檢測(ce):

1.預處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達(da)到溫度穩定(ding)。

2.初始(shi)檢(jian)測：將被測樣品與標準要求對照(zhao)，符合要求后(hou)直接(jie)放(fang)入(ru)高低溫沖擊(ji)試驗箱內即可。

3.試(shi)驗：

1)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣(yang)品(pin)應(ying)按標準(zhun)要求放置在試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)內,并將試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)(室)內溫(wen)度升(sheng)到點(dian)，保持(chi)一定(ding)的時間至試(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣(yang)品(pin)達到溫(wen)度穩(wen)定(ding)，以(yi)時間長都為準(zhun)。

2)高溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節到-55℃的低溫試驗箱(室(shi))內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩定，以時間長都(dou)為準。

3)低溫(wen)(wen)階(jie)段結束后(hou)，在5min內(nei)將試驗樣品轉(zhuan)換到已(yi)調節到70℃的高溫(wen)(wen)試驗箱(室)內(nei)，保持(chi)1h或者直(zhi)至(zhi)試驗樣品達到溫(wen)(wen)度穩定，以時間長都為準。

4)重復上(shang)述實驗方法,以完(wan)成三個循(xun)環周期。根據樣件大小與空(kong)間大小，時間可能會(hui)略有誤差。

4. 恢(hui)復：試(shi)驗樣品(pin)從(cong)試(shi)驗箱內取出(chu)后，應在(zai)正常的試(shi)驗大(da)氣條件(jian)下進(jin)行恢(hui)復，直至(zhi)試(shi)驗樣品(pin)達到溫度穩(wen)定。

5.zui后檢測：對(dui)照標準中的受損程度(du)及其(qi)它方法進(jin)行(xing)檢測結果評(ping)定。 

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