恒溫(wen)恒濕試(shi)驗箱的溫(wen)度偏差怎么校準(zhun)?

     恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)試驗箱(xiang)（高(gao)低(di)溫(wen)交(jiao)變濕(shi)熱試驗箱(xiang)）適用(yong)于工業產品高(gao)低(di)溫(wen)，交(jiao)變濕(shi)熱，恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)的可(ke)靠性試驗，KW-TH系(xi)列恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)箱(xiang)是(shi)對電(dian)(dian)子電(dian)(dian)工、零部件(jian)、汽車摩(mo)托、光(guang)電(dian)(dian)光(guang)纖、通訊器件(jian)、半導(dao)體、照(zhao)明電(dian)(dian)器、LED光(guang)電(dian)(dian)、復合材料、高(gao)分(fen)子材料、模具(ju)五金、LCD液晶顯示屏(ping)、航空航天、船舶bing器、高(gao)等(deng)院校、科研單位(wei)等(deng)相關產品的零部件及材料在高(gao)、低溫(wen)交變(bian)循(xun)環變(bian)化的情況下，檢驗其各(ge)項性能(neng)指標。

     恒溫(wen)(wen)濕熱(re)試(shi)驗箱在(zai)高(gao)溫(wen)(wen)及(ji)低溫(wen)(wen)時(shi)的溫(wen)(wen)度(du)均勻(yun)度(du)應不能(neng)大于2.0℃。高(gao)低溫(wen)(wen)濕熱(re)試(shi)驗箱的溫(wen)(wen)度(du)波動(dong)度(du)高(gao)溫(wen)(wen)時(shi)不大于0.5℃；低溫(wen)(wen)時(shi)不大于1.0℃。

    高(gao)低溫(wen)(wen)濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱，恒溫(wen)(wen)恒濕(shi)試驗(yan)箱工作室內壁溫(wen)(wen)度與(yu)工作空間溫(wen)(wen)度的(de)差距：

    可程式(shi)恒溫(wen)(wen)恒濕(shi)(shi)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)工(gong)作(zuo)室(shi)內(nei)壁溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)與工(gong)作(zuo)空間溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)之差，高(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)交變濕(shi)(shi)熱試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)在(zai)(zai)(zai)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)下(xia)(xia)應不(bu)大(da)(da)于試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)的(de)(de)3％,在(zai)(zai)(zai)低溫(wen)(wen)下(xia)(xia)應不(bu)超過8％。試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)升溫(wen)(wen)及降(jiang)溫(wen)(wen)速(su)率(lv)。在(zai)(zai)(zai)滿(man)載條(tiao)件下(xia)(xia)，每(mei)5min的(de)(de)平(ping)均升溫(wen)(wen)和降(jiang)溫(wen)(wen)速(su)率(lv)等(deng)級(ji)為(wei)：不(bu)大(da)(da)于1℃/min、0.2℃/min、0.6℃/min、1℃/min。濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du):在(zai)(zai)(zai)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)條(tiao)件下(xia)(xia)，工(gong)作(zuo)空間內(nei)的(de)(de)濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du)應不(bu)大(da)(da)于20gm3（相當于35℃時，相對濕(shi)(shi)度(du)(du)(du)(du)為(wei)50％）。高(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)的(de)(de)高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)等(deng)級(ji)為(wei)：30，40，55，70，85，100，125，155，175，200℃.（高(gao)(gao)(gao)溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)偏(pian)差不(bu)大(da)(da)于正(zheng)負2℃）高(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)的(de)(de)低溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)等(deng)級(ji)為(wei)： 5，-5，-10，-25，-40，-55，-65℃。（低溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度(du)(du)(du)(du)偏(pian)差不(bu)大(da)(da)于正(zheng)負3℃）

恒(heng)溫恒(heng)濕試(shi)驗箱的溫度是(shi)怎么校(xiao)準?

    恒溫(wen)恒濕(shi)試驗(yan)箱的溫(wen)度校(xiao)(xiao)準有以下方法，在實際工作中需(xu)要根據實際情況(kuang)選擇zui合適(shi)的方法，下面我東莞科文試驗(yan)設備儀器公司便對這幾種校(xiao)(xiao)準方法的優(you)缺點進行介(jie)紹。

一、在無負(fu)載(zai)條(tiao)件(jian)下開(kai)展校準：此方法(fa)的優(you)點是：高低(di)溫試(shi)驗箱的整個工作區域都(dou)得(de)到(dao)了校準、測試(shi)樣品變得(de)更時不(bu)需要(yao)重新校準、能夠對高低(di)溫試(shi)驗箱的適用(yong)性(xing)做出有效的評估。而它的主(zhu)要(yao)缺(que)點是：不(bu)能評估測試(shi)樣品對試(shi)驗箱所造成的影響。

二、在(zai)有負載條件下(xia)開展校準(zhun)：此方法(fa)的(de)優點(dian)是：能夠(gou)比較準(zhun)確(que)地評估測試樣品(pin)對試驗箱性能的(de)影響、易于得到測試樣品(pin)關鍵部件或部位的(de)環境試驗的(de)詳細信(xin)息(xi)。而它的(de)主要缺點(dian)是：當更換測試樣品(pin)時，需(xu)要重新校準(zhun)。

三、在(zai)使(shi)用(yong)過(guo)(guo)程中的(de)(de)(de)實(shi)時(shi)測(ce)量(liang)：此方法(fa)(fa)不僅具有1和2所述(shu)的(de)(de)(de)方法(fa)(fa)具有的(de)(de)(de)優(you)點(dian)，而(er)且(qie)能(neng)夠得到測(ce)試樣品在(zai)環境(jing)(jing)試驗(yan)過(guo)(guo)程中全面(mian)的(de)(de)(de)環境(jing)(jing)參(can)數，往往在(zai)對環境(jing)(jing)要(yao)求(qiu)很(hen)高的(de)(de)(de)產品試驗(yan)時(shi)采(cai)用(yong)。它的(de)(de)(de)主要(yao)缺點(dian)是：每次(ci)環境(jing)(jing)試驗(yan)都需(xu)要(yao)使(shi)用(yong)測(ce)量(liang)設備，通常在(zai)試驗(yan)箱校準(zhun)時(shi)采(cai)用(yong)無負載條件下的(de)(de)(de)校準(zhun)方法(fa)(fa)，本(ben)文(wen)為了便于評估試驗(yan)箱的(de)(de)(de)溫度性能(neng)，也(ye)采(cai)用(yong)了此方法(fa)(fa)進行(xing)分析。