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LED照明產品的高溫低溫濕熱老化可靠性試驗

更新時間:2014-01-07瀏覽:3017次

LED照明產(chan)品的高溫(wen)低溫(wen)濕熱老化可(ke)靠性試驗(yan)

 

     LED照明(ming)產品(LED日光(guang)燈(deng)/LED照明(ming)燈(deng)具/LED節(jie)能燈(deng)/LED光(guang)源(yuan)/LED模(mo)組/LED通訊/LED燈(deng)泡/LED光(guang)電(dian)(dian)/LED路(lu)燈(deng)/LED封裝/LED電(dian)(dian)源(yuan))可靠(kao)性設計技術,顧(gu)名思義,即(ji)是(shi)檢(jian)驗產(chan)品在(zai)用戶使用時(shi)是(shi)否可靠(kao)的一(yi)門(men)測試技術。這項測試技術運用成功與否,對產(chan)品的質量(liang)有舉足輕重的效果(guo),它自(zi)始至終地貫徹在(zai)產(chan)品的設計和生產(chan)過(guo)程中(zhong)。當一(yi)個室內LED照明產品被設計出來時,它的使用(yong)壽命(ming)有多長?LED照明產(chan)品能在怎樣(yang)的惡劣(lie)的環境下(如高溫(wen)、低溫(wen)、高低溫循環、高低溫老化、高溫高濕、冷熱沖擊和(he)振動等)運(yun)行?LED照明廠家首先(xian)要通過(guo)可靠性實驗做到(dao)心中有數。然后,把使用(yong)要點(dian)寫(xie)進說明書,提醒用(yong)戶(hu)一些注意(yi)事項,避免用(yong)戶(hu)因操作不當而損壞(huai)產品。下面就(jiu)簡單介紹一些LED照(zhao)明燈具可靠性試(shi)驗的方法和項目。

 

       LED照明(ming)產品的可靠性測試項目主要有:A:LED燈具高溫老化試(shi)驗 B:高溫高壓(ya)沖擊啟動試(shi)驗 C:LED低溫試驗 D:低溫高(gao)壓沖擊啟動試驗 E:LED振動試驗 F:壽(shou)命試驗 G:LED照明老(lao)化試(shi)驗(yan) H:小(xiao)試(shi) I:中(zhong)試(shi)。下面就介(jie)紹(shao)這些項目的運(yun)用。(以額(e)定電壓220V為例(li))其中(zhong)部分(fen)設備需自制(zhi)。

 

A:高(gao)溫試驗(yan)。 主要測試設備:LED恒溫老化(hua)、溫度計、調壓器、電壓表和時鐘。 主要測試項目:高溫低壓啟動、高溫安全運行。 測試數量:10個。 測試方法:把待測LED照(zhao)明燈具放進恒溫老化箱,連接(jie)電路,把調壓器(qi)的(de)輸出(chu)電壓調至180V(調壓器(qi)僅(jin)給待測LED燈具供電),打開(kai)LED恒溫老化箱(xiang)電源(yuan),把溫(wen)度(du)設定在60℃,待(dai)箱(xiang)內的(de)溫(wen)度(du)升至(zhi)60℃時打開燈具(ju)(ju)的(de)電源(yuan),觀察燈具(ju)(ju)是否(fou)正(zheng)常(chang)工作(zuo),然后把調壓器升至(zhi)250V,讓(rang)其(qi)工作(zuo)24小時,觀察實驗(yan)結果。若(ruo)發生燈具(ju)(ju)損壞(huai)材(cai)料(liao)受熱變形等異常(chang)現象時則(ze)該項實驗(yan)為(wei)不合格。 

 

B:高(gao)溫(wen)(wen)(wen)高(gao)壓(ya)(ya)(ya)沖擊啟動(dong)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)。 主要(yao)測試(shi)(shi)(shi)設(she)備:恒溫(wen)(wen)(wen)箱、溫(wen)(wen)(wen)度計、調(diao)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)、電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)表和(he)時鐘。 主要(yao)測試(shi)(shi)(shi)項(xiang)目(mu):高(gao)溫(wen)(wen)(wen)啟動(dong)性能和(he)可靠(kao)性 測試(shi)(shi)(shi)數量(liang):10個。 測試(shi)(shi)(shi)方法:接上項(xiang)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)。在高(gao)溫(wen)(wen)(wen)狀況下,把調(diao)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)調(diao)至(zhi)250V,開關三(san)次(ci),每次(ci)間隔不少(shao)于(yu)8秒(miao)鐘(間隔8秒(miao)鐘是要(yao)待(dai)燈具內的(de)電(dian)(dian)容全(quan)部放(fang)電(dian)(dian),減少(shao)相互干擾),在此過(guo)程中(zhong),燈具不應損壞,否則將視(shi)為(wei)不合格。 C:低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)。 主要(yao)測試(shi)(shi)(shi)設(she)備:低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)箱、溫(wen)(wen)(wen)度計、調(diao)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)(qi)、電(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)表和(he)時鐘。 主要(yao)測試(shi)(shi)(shi)項(xiang)目(mu):低(di)(di)溫(wen)(wen)(wen)低(di)(di)壓(ya)(ya)(ya)啟動(dong)。 測試(shi)(shi)(shi)數量(liang):10個。 Led低溫測(ce)試方法(fa):把待測(ce)燈(deng)具(ju)放進低溫箱,連接電路,把調(diao)(diao)壓器(qi)(qi)的輸出電壓調(diao)(diao)至180V(調(diao)(diao)壓器(qi)(qi)僅給待測(ce)燈(deng)具(ju)供電),打開led低溫(wen)箱(xiang)電(dian)源,把(ba)溫(wen)度(du)設(she)定在-15℃,待箱(xiang)內的溫(wen)度(du)降至-15℃時再保持2小時,讓燈具充分冷卻后,打開燈具的電(dian)源,觀察實驗結果(guo)。若發(fa)生燈具損壞、不(bu)能(neng)啟動(dong)等異常現象時則該項實驗為不(bu)合(he)格。

 

D:低溫高壓沖擊(ji)啟動試(shi)驗。 主要(yao)測試(shi)設備:led低溫試(shi)驗、溫度計、調壓器、電壓表和時鐘。 主要測試項目:低溫高壓沖擊可靠性 測試數量:10個。 測試方法:接上項試驗。在低溫狀況下,把調壓器電壓調至250V,開關三次,每次間隔不少于8秒鐘(間隔8秒鐘是要待燈具內的電容全部放電,減少相互干擾),在此過程中,燈具不應損壞,否則將視為不合格。 

 

E:振動試(shi)驗。 主要測試(shi)設備:led照明燈具(ju)振動試(shi)驗臺1套(tao) 測試數量:10個包裝。 測試方法:把led燈具及led照明測(ce)(ce)(ce)試樣(yang)品(pin)包(bao)裝好,放在振(zhen)動試驗臺上(shang),把測(ce)(ce)(ce)試頻率調在0。5—5赫茲,周期為1分鐘,振(zhen)幅(fu)為1。5厘米,在上(shang)下、左(zuo)右、前(qian)后三個方向上(shang)分別試驗30分鐘,然后取出(chu)樣(yang)品(pin)測(ce)(ce)(ce)試,不(bu)應(ying)有(you)損(sun)壞(huai)的現象出(chu)現,否則將(jiang)視為不(bu)合(he)格(ge)。 

 

F:壽命試(shi)驗。 主(zhu)要測(ce)試(shi)設備:供電(dian)電(dian)源 主(zhu)要測(ce)試(shi)項目:正常(chang)工(gong)(gong)(gong)作壽命 測(ce)試(shi)數量:10個(ge)。 測(ce)試(shi)方法1:把燈(deng)具(ju)接上額(e)定電(dian)壓220V,讓其正常(chang)工(gong)(gong)(gong)作,記(ji)下開始工(gong)(gong)(gong)作時間(jian),待每(mei)個(ge)燈(deng)具(ju)損(sun)壞時,記(ji)下終(zhong)止的(de)(de)時間(jian),當(dang)所有的(de)(de)燈(deng)具(ju)損(sun)壞時,求出燈(deng)具(ju)的(de)(de)平均工(gong)(gong)(gong)作時間(jian),這即為(wei)產品(pin)的(de)(de)壽命。 測(ce)試(shi)方法2:根據實際燈(deng)具(ju)產品(pin),采取的(de)(de)加速壽命老(lao)化(hua)的(de)(de)方法(例如加高(gao)溫、高(gao)壓和(he)頻(pin)繁開關等),根據實際情況制造的(de)(de)老(lao)化(hua)設備。 

 

G:led老化試驗(yan)。Led照(zhao)明(ming)燈具及led電源等新(xin)產(chan)品在投產(chan)前,必須在數量上分(fen)別通過小批試產(chan)和(he)中(zhong)量試產(chan)的階段,通過這些試驗可找出非設(she)計問(wen)(wen)題如原材料和(he)工藝問(wen)(wen)題。

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